实验室

环境可靠性测试设备是通过高精度制冷/加热系统和加湿/除湿系统，在箱体内创造精确可控的温度、湿度环境，模拟产品在各种自然环境或工作环境中可能遇到的严苛条件，以评估其耐久性、适应性和可靠性的专用仪器。其核心目的是在实验室内加速再现产品的生命周期中可能经受的应力，从而发现设计缺陷、筛选早期故障、验证产品寿命。

适用于航空航天产品、电子元器件、电工电子产品、材料等在温度快速转变下的性能检验。

寿命老化可靠性测试设备是在实验室中模拟并强化产品在真实使用中经受的环境与工作应力，通过加速其老化过程，来定量评估产品寿命和长期可靠性的综合测试系统。它将“环境应力模拟”与“时间累积效应”紧密结合，核心目的是在短期内预测产品在长期使用后的性能衰减与失效规律。

其工作原理基于加速寿命测试（ALT）模型，通过施加强化的综合应力来“压缩”时间，并持续监测关键性能参数。

这类设备超越了单一应力测试，通过综合加速手段揭示产品的寿命瓶颈。

半导体功率器件及模块测试系统是一套高度专业化、高度集成的综合测试平台，其核心目标是在接近或超越真实工作极限的条件下，对以IGBT、SiC MOSFET、GaN HEMT等为代表的功率半导体进行全面的电气性能、动态特性、热特性及长期可靠性评估。它超越了普通半导体测试，专为应对高电压、大电流、高频开关以及由此带来的高压隔离、强电磁干扰、复杂热管理等独特挑战而设计。

简单来说，这套系统不仅是“测量工具”，更是功率器件的“极限考场”和“寿命预言家”。

这套系统能执行从基础到前沿、从静态到动态、从常温到高温的全方位测试：测试类别 核心测试项目 目的与描述 关键设备/技术

动态开关特性测试 双脉冲测试 评估器件开关性能的“金标准”。获取开关时间、开关能量、dv/dt、di/dt等关键参数，用于评估开关损耗和驱动设计。 双脉冲测试夹具、高压差分探头、高带宽电流探头、高速示波器。

静态参数测试 输出特性、转移特性、体二极管特性、电容特性 测量器件在稳态下的基本性能，如饱和压降、阈值电压、导通电阻、跨导等。